dc.contributor.author |
Ghilețchii, Gheorghe |
|
dc.date.accessioned |
2024-02-26T13:49:00Z |
|
dc.date.available |
2024-02-26T13:49:00Z |
|
dc.date.issued |
2024 |
|
dc.identifier.citation |
GHILEȚCHII,Gheorghe. Radiaţii X în aplicaţii avansate de cercetare a materialelor şi structurilor de diferită dimensionalitate. În: Analele Științifice ale Universității de Stat din Moldova. Lucrări Studențești. Științe ale Naturii și Exacte. Științe Economice. Chișinău. Editura USM, 2024, pp.13-18. ISBN 978-9975-62-671-2 (PDF) |
en |
dc.identifier.isbn |
978-9975-62-671-2 |
|
dc.identifier.uri |
http://dspace.usm.md:8080/xmlui/handle/123456789/14011 |
|
dc.description.abstract |
În lucrare au fost aplicate metodele de măsurare (XRD, GI-XRD, XRR etc.) bazate pe
interacțiunea razelor X cu materialele cristaline cu diferită dimensionalitate și structură:
pulbere (CdSe(c)), nanopulbere (CdSe), straturi subțiri semiconductoare policristaline
(ZnSnN2/glass și Ga2S3/pSi), strat epitaxial (CaF2), suprarețea (PbTe/SnTe/Si(111)). A fost
realizat studiul proprietăților fizice în funcție de parametrii tehnologici pentru: filmele ZnSnN
2 – ținte cu diferită concentrație atomară de Zn și Sn, diferite temperaturi ale suportului
de sticlă; nanopulberi de CdSe – diferit timp de sintentizare; straturile subțiri semiconductoare
policristaline Ga2S3/pSi – diferite temperaturi ale suportului și cicluri de depunere.
Pentru măsurarea probelor s-a utilizat difractometrul Panalytical Empyrean cu geometria
Bragg-Brentano cu tubul de raze X cu anod de Cu(λKα1=1,540598Å, λKα2=1,5444260Å). |
en |
dc.description.sponsorship |
Lucrarea a fost elaborată cu susținerea proiectului ANCD cu cifrul 20.80009.5007.12. |
en |
dc.language.iso |
ro |
en |
dc.publisher |
Editura USM |
en |
dc.title |
RADIAŢII X ÎN APLICAŢII AVANSATE DE CERCETARE A MATERIALELOR ŞI STRUCTURILOR DE DIFERITĂ DIMENSIONALITATE |
en |
dc.type |
Article |
en |